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可见光 Chip测试

可见光 Chip测试

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PSS CHIP12806-P

本设备应用于可见光CHIP常温PIV测试、光谱测试并对不同测试结果进行归类分档筛选。芯片蓝膜上料，自动寻料、识别定位，通过蓝膜顶针剥离芯片、吸嘴吸取、机械手完成搬运，视觉识别并校准位置、自动加电收集发光参数、测试PIV/光谱、分析筛选、机械手搬运分档到不同蓝膜档位。 此设备具有高速、高精度特点，实现了复杂时序、严密逻辑的工艺过程。设备采用了直线电机、高精度模组运动、凸轮等机构，配合多轴运动、视觉定位、ORC识别等技术，具有批量生产能力。

可见光类Chip单工位测试，支持LIV、光谱、发散角等光电特性测试。

PSS CHIP12806-P

10ns Lidar芯片可靠性系统

10ns Lidar芯片可靠性系统

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PSS PLSReliability

公海赌赌船官网jcjc5500窄脉冲集成式可靠性系统用于激光雷达10ns窄脉冲可靠性测试。每个老化板可独独立设定老化电流电压参数，老化箱带自锁功能，防止老化过程中误操作，老化板实时温度检测，支持本地Access保存或SQL服务器保存数据。

脉冲电流≤30A，脉冲电压≤30V，脉冲宽度10ns,占空比≤0.02%；

PSS PLSReliability

100ns TO脉冲老化系统

100ns TO脉冲老化系统

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PSS PLSBI0201

公海赌赌船官网jcjc5500大功率窄脉冲抽屉式老化系统主要用于Lidar 激光器在一定温度条件下进行脉冲加电老化，不同的老化抽屉可满足不同封装的Lidar 激光器的老化需求，一个老化系统最多可装载40个老化抽屉，每个抽屉相当于一个独立的实验计划，其老化温控和加电可独立控制；系统集成老化上位机软件，可在老化过程中监控老化电流、电压数据，方便用户可靠性分析。

脉冲电流≤30A，脉冲电压≤40V，脉冲宽度100ns,占空比≤0.02%；最多支持640PCS TO器件单次老化

PSS PLSBI0201

APD集成式老化系统

APD集成式老化系统

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PSS APDBI13002

APD集成式老化系统用于光通信行业的APD、APD-TIA 、PIN、PIN-TIA 等TO器件可靠性评估和老化筛选，最多支持3072pcs的单次老化。该系统可以提供2mA的恒流、5V的恒压以及175℃高温老化条件，同时对器件的VBR、TIA电流进行实时监控，并自动进行产品失效判断。实时储存监控数据，支持对老化失效器件追溯，能够有效的提升TO生产的效率和可靠性，可以极大的提高器件测试的产量和质量。

APD恒流≤2mA,APD电压测量0~70V，TIA恒压≤5V,VPD电压≤20V，PD电流测量200uA ,最多支持3072pcs的单次老化

PSS APDBI13002

RGB COB模组老化系统

RGB COB模组老化系统

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PSS LRS-W-2561

公海赌赌船官网jcjc5500COB老化系统主要应用于可见光COB模组的老化筛选和寿命验证的系统，配置16个独立的老化抽屉单元，每个抽屉设置独立的水冷控制模块，可支持256PCS激光模组老化。系统采用定制的加电夹具，可支持不同封装COB激光器的老化。

老化电流≤7A,电压≤70V ，支持256PCS RGB CIB器件老化

PSS LRS-W-2561

50GBaud 采样示波器

50GBaud 采样示波器

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PSS DCA50021

DCA50021光采样示波器用于发射机性能指标测试，支持单路或4路光输入，支持NRZ和PAM4信号测试，光通道带宽30GHz配备多种典型滤波器，电通道带宽高达50GHz。 采用最佳垂直分辨率、高采样率ADC实现连续等效采样技术，结合自研算法完成眼图重构，优异的电路设计保证系统噪声低至3uw以下，搭配经过校准的参考接收机（符合行业容限标准），完美满足业内精确测试数字波形的需求。 高精度、低噪声、低成本，快速采样示波器为客户提供光电性能测试一站式解决方案。

4 路光信号输入，NRZ 和 PAM4 信号测试，电通道带宽 50GHz， 光通道带宽 30GHz，850nm~1650nm波长。

PSS DCA50021

SM11081台式源表

SM11081台式源表

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PSS SM11081

PSS SM11081是一款8通道独立的高性能精密源表，能够同时输出和测量电压电流，最大支持±10V，±500mA直流/脉冲输出，最小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集，支持PXIe Trigger及前面板DIO同步触发，提高了系统测试效率并降低成本。

8通道，电压±10V，电流±500mA，脉宽≥100μs， 分辨率10pA/100μV，功率3w/CH

PSS SM11081

COB测试机

COB测试机

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PSS COBT2001

公海赌赌船官网jcjc5500PSS COBT2001系列自动测试系统，适用于VCSEL多模封装光学耦合前后的模块测试需求。设备不仅验证COB模块本身的功能和光学部分的可靠性，还用于VCSEL光芯片的可靠性验证测试。独有的收光装置可覆盖不同功率的测试对象，亦可保证功率测试重复性，支持VCC、ICC、PO、ITH、SE等相关参数测试，设备具备一致性好，高可靠性，高效生产等特点，兼容PSS老化板，其他品牌老化板，支持双板4工位并行测试，一站式完成SFP、QSFP、QSFP-DD、OSFP等封装的测试。

光引擎COB测试，支持DDMI、Ith、SE等相关参数测试。

PSS COBT2001

100G时钟恢复

100G时钟恢复

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PSS CDR100G2

公海赌赌船官网jcjc5500时钟数据恢复系列是高性能、高性价比CDR产品，它可以从光模块或背板等环境数据信号中提取出低抖动时钟信号，系列产品覆盖24.33~28.05GBd NRZ/PAM4，49.76~56GBd NRZ/PAM4速率，支持800~1650nm全波段使用，操作简易便利，为高速光器件、光模块的信号完整性分析提供支持。

支持24.33~28.05GBd NRZ/PAM4，49.76~56GBd NRZ/PAM4光信号时钟恢复

PSS CDR100G2

可见光COB自动测试机

可见光COB自动测试机

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PSS_COBT10201

公海赌赌船官网jcjc5500COB自动测试系统主要应用于可见光COB模组的性能测试，配置全自动上下料机械手，实现高度自动化，减少人为操作和干预，测试效率高。

用于可见光COB模组测试，支持LIV、光谱、发散角等光电特性测试。

PSS_COBT10201

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