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PXIe插卡式源表
PSS PXIe-5141
PSS PXIe-5141是一款4通道独立的高性能精密源表，能够同时输出和测量电压电流，最大支持±10V，±100mA直流/脉冲输出，最小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集，支持PXIe Trigger及前面板DIO同步触发，提高了系统测试效率并降低成本。
4通道，电压±30V，电流±500mA，脉宽≥100μs，分辨率10pA/100μV，功率3W/CH
控制卡
PXIe-1711
PXIe-1711系统卡是为研发、测试工程师打造的高性能、模块化和软件连接于一身的计算机平台，PXIe-1711采用Intel 十一代酷睿处理器，基频2.6G最高睿频4.5G，可在各种应用场景中出色的展现其高性能、高可靠性、通用性和实用性强等特点。PXIe-1711系统卡符合 PXI-5 PXI Express 硬件规范及PXI-6 PXI Express 软件规范，同时兼容国内外主流板卡供应商生产的机箱及模块，可满足企业研发、测试和生产的需求。
Intel Core i7 11850HE高性能处理器，16GB/s系统带宽，2Link x8/4Link x4自适应
PXIe-1512
PXIe-1512系统卡是为研发、测试工程师打造的高性能、模块化和软件连接于一身的计算机平台，PXIe-1512采用Intel 十二代酷睿处理器，基频1.3G最高睿频4.4G，可在各种应用场景中出色的展现其高性能、高可靠性、通用性和实用性强等特点。PXIe-1512系统卡符合 PXI-5 PXI Express 硬件规范及PXI-6 PXI Express 软件规范，同时兼容国内外主流板卡供应商生产的机箱及模块，可满足企业研发、测试和生产的需求。
Intel Core i5 1235U处理器，4GB/s系统带宽，2Link x8/4Link x4自适应
PXIe-1511
PXIe-1511系统卡是为研发、测试工程师打造的高性能、模块化和软件连接于一身的计算机平台，PXIe-1511采用Intel 十一代酷睿处理器，基频2.6G最高睿频4.5G，可在各种应用场景中出色的展现其高性能、高可靠性、通用性和实用性强等特点。PXIe-1511系统卡符合 PXI-5 PXI Express 硬件规范及PXI-6 PXI Express 软件规范，同时兼容国内外主流板卡供应商生产的机箱及模块，可满足企业研发、测试和生产的需求。
Intel Core i5 11500HE高性能处理器，16GB/s系统带宽，2Link x8/4Link x4自适应
PIV智能耦合电源
PSS PIV-EML
PSS PIV-X主要用于LD、TOSA、BOSA耦合时的在线监测。系统给OSA器件的LD提供驱动电源，以及实时监测耦合过程中的系列相关性能指标。可监测参数：阈值电流、驱动电流、背光电流、光功率、正向电压等。并在本机显示相关参数，以及P-I 曲线、Im-I曲线、V-I曲线等，也可以外接示波器显示相关波形。
用于LD、TOSA、BOSA耦合时的在线监测，自带高速彩色液晶实现数字示波器显示PIV曲线
探测器耦合测试仪
PSS RCML20192
公海赌赌船官网jcjc5500的探测器耦合测试仪（PSS RCML20192），用于APD、PIN-TIA(Vpd/Mon)两种类型的各种脚位顺序ROSA/BOSA器件的耦合生产与测试。本仪器自带光衰模块，可实现快速衰减，同时内置输出监视的高精度光功率计，在衰减的同时可以实时监控输出端口的光功率。且支持外置光模块接口，可外接不同波长模块，为生产ROSA/BOSA器件提供不同耦合光源需求提供便利。 设备内置稳定的APD高压源、恒流源、显示模组、回损测试等功能模块。
用于APD、PIN-TIA(Vpd/Mon)类型ROSA/BOSA器件的耦合实时在线监测
数据通信VCSEL晶圆测试
PSS WT-8502
公海赌赌船官网jcjc5500光通信VCSEL测试机用于面发射类型VCSEL的Wafer测试，支持芯片的LIV、光谱相关参数的测试，视觉自动识别，全自动完成每一颗芯片的测试；支持常温、高温双温测试，高温测试温度可由用户自定。兼容多种不同尺寸的Wafer，向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。
850nm VCSEL的Wafer测试，支持LIV、光谱相关参数的测试
激光雷达VCSEL晶圆测试
PSS WT-VL602
公海赌赌船官网jcjc5500高功率VCSEL测试机用于垂直腔面发射类型激光器芯片的Wafer测试，支持100ns级脉宽最大30A电流的LIV、光谱、近场、远场相关参数的测试，视觉自动识别，全自动完成每一颗芯片的测试；支持Chuck设置25~85℃温度测试。标配6inch Wafer测试，兼容2、4inch晶圆及破片测试，向用户开放测量数据库，用于后续筛分工序。
激光雷达类VCSEL的Wafer测试，支持LIV、光谱、NF、FF相关参数的测试
COC抽屉式老化系统
PSS LRS13841
公海赌赌船官网jcjc5500 抽屉式COC 老化系统（PSS LRS13841），常用于 DFB、EML、EML-SOA 类型芯片的老化筛选以及寿命可靠性分析。系统支持恒流（LD&SOA）、恒压（EA）同步输出，实时监测电流、电压、光功率、温度等数据，自动进行产品失效判断。支持本地及远程数据库， 可对失效器件数据分析追溯。
单路电流≤500mA;电压≤5V;支持40个控温单元,最大可同时3840PCS COC 的老化
LD集成式老化系统
PSS LDBI13003
LD集成式老化系统，用于各种类型封装LD器件的老化筛选以及可靠性寿命分析。该系统可以通过软件配置管脚定义并提供高达500mA的驱动电流以及150℃高温老化条件，同时对器件的驱动电流、背光电流以及阈值进行实时监控测试，并自动进行产品失效判断。实时储存监控数据，支持对老化失效器件的数据追述。最多支持3072pcs的单次老化。
LD驱动电流≤250mA，LD正向电压≤3V，PD反偏电压≤5V，PD监控电流≤2000uA，最多支持3072PCS的单次老化
光模块测试
光器件测试
PXI系统
台式源表
芯片可靠性
光器件可靠性
RGB可靠性
激光雷达可靠性
光模块可靠性
晶圆测试
芯片测试
光引擎测试
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